Quantitative Analysis in Gas Chromatography/low Power Atmospheric- Pressure Helium Microwave-induced Plasma Atomic Emission Interferometry and Ion Cyclotron Resonance Mass Spectroscopy

Quantitative Analysis in Gas Chromatography/low Power Atmospheric- Pressure Helium Microwave-induced Plasma Atomic Emission Interferometry and Ion Cyclotron Resonance Mass Spectroscopy

Auteur : Jeffrey Frank Loo

Date de publication : 1989

Éditeur : University of Wisconsin--Madison

Nombre de pages : 446

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