X-ray Diffraction Characterization of Process-induced Residual Stresss
Auteur : Daniel J. Snoha
Date de publication : 1996
Éditeur : U.S. Army Research Laboratory
Nombre de pages : 18
Résumé du livre
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Auteur : Daniel J. Snoha
Date de publication : 1996
Éditeur : U.S. Army Research Laboratory
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