Characterization of II-VI Heteroepitaxial Layers on GaAs (001) Substrates by High-resolution X-ray Diffraction

Characterization of II-VI Heteroepitaxial Layers on GaAs (001) Substrates by High-resolution X-ray Diffraction

Auteur : Xiaoguang Zhang

Date de publication : 1998

Éditeur : University of Connecticut

Nombre de pages : 214

Résumé du livre

Aucun résumé disponible pour ce livre.

Connexion / Inscription

Saisissez votre e-mail pour vous connecter ou créer un compte

Connexion

Inscription

Mot de passe oublié ?

Nous allons vous envoyer un message pour vous permettre de vous connecter.